Видимость графена
Видимость графена на подложке является важным вопросом, который надо решить для нахождения графена. Так как графен получают, в основном, при помощи механического отшелушивания графита и впоследствии осаждают на подложку окисленного кремния (SiO2/Si) без фиксации позиции на поверхности подложки, то необходимо сначала найти кусочки на поверхности. Поскольку графен имеет толщину всего в один атом важно выбрать наиболее благоприятные для поиска в оптический микроскоп условия (например, частоту волны света, толщину диэлектрика, угол наблюдения)[1][2].
Расчёт с использованием формул Френеля при учёте многократных отражений от границ раздела сред показал, что наиболее выгодными для использования в видимом диапазоне света являются толщины диэлектрика 100 нм и 300 нм[1][2]. В настоящее время используются подложки кремния с толщиной диэлектрика 300 нм.
Несмотря на то, что толщина графена составляет один атом, оптические свойства свободного графена таковы, что его прозрачность определяется только постоянной тонкой структуры[3]. (см. Постоянная тонкой структуры (графен))
Примечания[править | править код]
- ↑ 1 2 Blake P. et. al. Making graphene visible Appl. Phys. Lett. 91, 063124 (2007) doi:10.1063/1.2768624
- ↑ 1 2 Abergel D. S. L. et. al. Visibility of graphene flakes on a dielectric substrate Appl. Phys. Lett. 91, 063125 (2007) doi:10.1063/1.2768625
- ↑ Nair R. R. et. al. Fine Structure Constant Defines Visual Transparency of Graphene. Science 320, 1308 (2008) doi:10.1126/science.1156965