Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

Материал из Википедии — свободной энциклопедии
Перейти к: навигация, поиск
Схема монохроматической системы рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС).

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) — количественный спектроскопический метод исследования элементного состава, эмпирической формулы, химического и электронного состояния атомов, присутствующих в материале. Он основан на явлении внешнего фотоэффекта. Спектры РФЭС получают облучением материала пучком рентгеновских лучей с регистрацией зависимости количества испускаемых электронов от их кинетической энергии. Исследуемые электроны испускаются верхним слоем исследуемого материала толщиной 1-10 нанометров. РФЭС проводится в сверхвысоком вакууме.

РФЭС — метод химического анализа поверхности, который может быть использован для анализа химического состояния материала как в его первоначальном состоянии, так и после некоторой обработки, например скола, разреза или очистки в воздухе или сверхвысоком вакууме для исследования внутреннего химического состава образца, облучения высокоэнергетическим пучком ионов для очистки поверхности от загрязнений, нагрева образца, чтобы изучить изменения вследствие нагревания, помещения в атмосферу реактивного газа или раствора, облучения ионами с целью их внедрения, облучения ультрафиолетовым светом.

Поскольку для возбуждения фотоэмиссии используется излучение с известной длиной волны, энергия связи испускаемых электронов может быть найдена по уравнению, следующему из закона сохранения энергии:

E_\text{b} = E_\text{photon} - \left(E_\text{k} + \phi\right),

где E_\text{b} — энергия связи электрона, E_\text{photon} — энергия возбуждающего фотона, E_\text{k} — фиксируемая в эксперименте кинетическая энергия электрона, φ — работа выхода спектрометра.

См. также[править | править вики-текст]

Ссылки[править | править вики-текст]

  • Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, ed. J.T.Grant and D.Briggs, published by IM Publications, 2003, Chichester, UK
  • Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, 2nd edition, ed. M.P.Seah and D.Briggs, published by Wiley & Sons, 1992, Chichester, UK
  • Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, ed. M.P.Seah and D.Briggs, published by Wiley & Sons, 1983, Chichester, UK ISBN 0-471-26279-X