Метод PIXE

PIXE (Particle Induced X-Ray Emission) — метод определения элементного состава материала или образца. Он основан на регистрации рентгеновского излучения, возникающего при облучении образца пучком ионов.

Суть метода

На материал направляют сфокусированный пучок протонов. При взаимодействии с атомами образца они могут вытеснять электроны с внутренних оболочек. Это создаёт вакансии, которые впоследствии заполняются электронами с более высоких уровней энергии, в результате чего возникает характерное рентгеновское излучение, специфичное для каждого элемента в образце.

Некоторые области применения PIXE

• Металлургия

Метод используют для исследования чистоты и состава различных металлов и сплавов.

• Керамика

PIXE помогает выявлять и количественно оценивать примеси, которые влияют на термостойкость и структурную целостность керамических материалов.

• Полимеры

Метод позволяет обнаруживать добавки и наполнители, которые используются для улучшения свойств полимеров.

• Композитные материалы

PIXE играет ключевую роль в анализе этих материалов, предоставляя детальные карты элементов.

• Экология

Метод используют для анализа загрязняющих веществ, обнаруживая следы элементов в образцах воздуха, воды и почвы.

• Биологические исследования

PIXE применяют для изучения биологических тканей, предоставляя ценные данные об элементном составе на микроуровне.

Литература

• Keizo Ishii. PIXE and Its Applications to Elemental Analysis (англ.) // Quantum Beam Science. — 2019-06-10. — Vol. 3, iss. 2. — P. 12. — ISSN 2412-382X. — doi:10.3390/qubs3020012.

• H.J. Annegarn, S. Bauman. Geological and mineralogical applications of PIXE: A review (англ.) // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. — 1990-04. — Vol. 49, iss. 1-4. — P. 264–270. — doi:10.1016/0168-583X(90)90258-V.