Цернике, Фриц

Материал из Википедии — свободной энциклопедии
Перейти к навигации Перейти к поиску
Фриц Цернике
Frits Zernike
Zernike.jpg
Дата рождения 16 июля 1888(1888-07-16)
Место рождения Амстердам, Нидерланды
Дата смерти 10 марта 1966(1966-03-10) (77 лет)
Место смерти Амерсфорт, Нидерланды
Страна  Нидерланды
Научная сфера физика
Место работы
Альма-матер
Награды и премии Медаль Румфорда (1952)
Нобелевская премия Нобелевская премия по физике (1953)
Commons-logo.svg Медиафайлы на Викискладе

Фриц Цернике (нидерл. Frits Zernike; 16 июля 188810 марта 1966) — голландский физик, лауреат Нобелевской премии по физике 1953 года «За обоснование фазово-контрастного метода, особенно за изобретение фазово-контрастного микроскопа».

Член Нидерландской королевской академии наук (1946)[2], иностранный член Лондонского королевского общества (1956)[3]

Биография[править | править код]

Цернике родился в Амстердаме, Нидерланды в семье Карла Фридриха Августа Цернике и Антье Дайперинк. Родители были учителями математики, и он приобрёл страсть отца к физике. Он изучал химию (её основы), математику и физику в университете Амстердама. В 1912 году он был удостоен премии за работу по опалесценции в газах. В 1913 году он стал помощником Якоба Корнелиуса Каптейна в астрономической лаборатории Университета Гронингена. В 1914 году он совместно с Леонардом Орнштейном вывел уравнения Орнштейна — Цернике для теории критической точки. В 1915 году он получил место на кафедре теоретической физики в том же университете, и в 1920 году он был назначен профессором теоретической физики.

Основные труды[править | править код]

В 1930 году Цернике, проводя исследования по спектральным линиям, обнаружил, что так называемые спектральные духи, которые находятся слева и справа от каждой основной линии в спектрах, созданных с помощью дифракционной решётки, имеют сдвиг по фазе от первичной линии на 90 градусов. На физическом и медицинском конгрессе в г. Вагенинген в 1933 году, Цернике впервые описал свой метод фазового контраста в приложении к микроскопии. Он использовал метод, чтобы проверить форму вогнутых зеркал. Его открытие легло в основу первого микроскопа на основе метода фазового контраста, построенного во время Второй мировой войны.

Еще один вклад в области оптики связан с эффективным описанием дефектов изображений или аберраций оптических систем, таких как микроскопы и телескопы. Представление аберраций первоначально было основано на теории, разработанной Людвигом Зейделем в середине девятнадцатого века. Представление Зейделя было основано на разложении в степенной ряд и не позволяло провести чёткое разделение между различными типами и порядками аберраций. Ортогональные многочлены Цернике позволили решить эту давнюю проблему оптимальной "балансировки" различных аберраций оптических систем. С 1960-х полиномы Цернике широко используются в оптическом дизайне, оптической метрологии и анализе изображений.

Работы Цернике помогли пробудить интерес к теории когерентности, исследованиям частично когерентных источников света. В 1938 году он опубликовал более простой вывод теоремы Ван Циттерта (1934 год) о когерентности излучения от удалённых источников, ныне известный как теорема ван Циттерта — Цернике.[4][5]

См. также[править | править код]

Примечания[править | править код]

  1. 1 2 Catalogus Professorum Academiae Groninganae — 2014.
  2. F. Zernike (1888 - 1966)
  3. Zernike; Frits (1888 - 1966)  (англ.)
  4. P.H. van Cittert. Die Wahrscheinliche Schwingungsverteilung in Einer von Einer Lichtquelle Direkt Oder Mittels Einer Linse Beleuchteten Ebene (нем.) // Physica : magazin. — 1934. — Bd. 1. — S. 201—210.
  5. F. Zernike. The concept of degree of coherence and its application to optical problems (англ.) // Physica : journal. — 1938. — Vol. 5. — P. 785—795.

Ссылки[править | править код]