Электронный проектор

Материал из Википедии — свободной энциклопедии
Перейти к навигации Перейти к поиску

Электронный проектор (или Автоэлектронный микроскоп) -(или Field emission microscopy) безлинзовый электронно-оптический прибор для получения увеличенного в миллионы раз изображения поверхности твердого тела. Изобретен в 1936 немецким физиком Э.Мюллером [1].

Его конструкция содержит катод в виде проволочки с точечным эмиттером на конце, радиус кривизны которого м. Анод изготовляется в виде полой сферы, внутренняя поверхность которой покрыта слоем люминофора и металлизацией. Из колбы откачивается воздух (остаточное давление )мм.рт.ст. Когда на анод подается положительное напряжение в несколько тысяч вольт относительно игольчатого катода, напряженность электрического поля вблизи точечного эмиттера достигает В/м). Это обеспечивает интенсивную автоэлектронную эмиссию. Эмитированные электроны ускоряясь в радиальных направлениях, бомбардируют экран, вызывая свечение люминофора, и создают на экране увеличенное контрастное изображение поверхности катода, отражающее её кристаллическую структуру. Увеличение электронного проектора равно отношению радиусов внешней сферы к радиусу точечного эмиттера (). Разрешающая способность ограничена наличием тангенциальных составляющих скоростей автоэлектронов у кончика острия и в меньшей степени — дифракцией электронов.

«Подсчет» электронов[править | править код]

Типичный электронный проектор представляет собой сферический конденсатор с внешним радиусом значительно большим за внутренний (). Наиболее интересен граничный случай, когда внутренний радиус точечного эмиттера совпадает с радиусом Бора (отличия радиусов отдельных атомов от данного значения здесь не существенны):

м,

где  — характеристическая длина электрона, а  — постоянная тонкой структуры.

Масштаб частоты на масштабе Бора равен значению:

,

где  — приведенная постоянная Планка, а кг — масса электрона.

Масштаб тока на масштабе Бора (одноэлектронный) равен значению:

А,

где  — заряд электрона. Таким образом, внутренняя сфера электронного проектора ограничивает поступление электронов. Более того, они здесь поступают поштучно! Плотность тока на внутренней сфере равна:

,

где  — двухмерная плотность заряда на сфере Бора.

Плотность тока на внешней сфере пока неизвестна:

,

где  — двухмерная плотность заряда на внешней сфере. Другими словами, мы пока не знаем заряда и частоты на внешней сфере электронного проектора. Значение частоты на внешней сфере можно найти из условия равенства зарядов . Тогда отношение частот будут равно: , где учтено типичное значение внешнего радиуса м. Таким образом, частота изменения заряда на внешней сфере будет равна:

,

где  — частота колебаний резонатора, который образуется внешней сферой, а  — характеристическая частота электрона. Теперь мы можем найти заряд на внешней сфере:

.

Учитывая непрерывность тока через сферический конденсатор, имеем:

.

Другими словами, оценка частоты на внешней сфере оказалась вполне осмысленной и привела к верному результату.

Таким образом, при исследовании электронных проекторов с предельным значением размеров эмиттера, необходимо обеспечить большое количество свободных электронов на внешней сфере (более шестнадцати порядков!) для того, чтобы через внутреннюю сферу (эмиттер) проходило только по одному электрону.

Достаточно интересным является вопрос о суммарном токе, протекающем через «вакуумный диод» электронного проектора. Учитывая дискретность изменения заряда на точечном эмиттере, электрический ток также будет изменяться дискретно:

,

где . Узловые значения напряжений на электронном проекторе будут равны:

В.

См. также[править | править код]

Примечания[править | править код]

  1. Mueller, E.W. (1937). «Elektronenmikroskopische Beobachtungen von Feldkathoden». Z. Phys 106: 541. doi:10.1007/BF01339895

Литература[править | править код]

  • Mueller E.W. The field-ion microscope, Advances in Electronics and Electron Physics, vol.13,83 (1960).
  • Мюллер Є.В., Цонт Т. Т. Автоионная микроскопия, пер. с англ., М:Металлургия,1972.
  • Мюллер Є.В., Цонт Т. Т. Полевая ионная микроскопия, полевая ионизация и полевое испарение, пер. с англ., М:Наука,1980.
  • Field Emission / Ion Microscopy Laboratory, Purdue University, Dept. of Physics. Retrieved 2007-05-10 [1]
  • Stranks, D. R.; M. L. Heffernan, K. C. Lee Dow, P. T. McTigue, G. R. A. Withers (1970). Chemistry: A structural view. Carlton, Victoria: Melbourne University Press. pp. 5. ISBN 0-522-83988-6.
  • K.Oura, V.G.Lifshits, A.ASaranin, A.V.Zotov and M.Katayama, Surface Science — An Introduction, (Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2003).
  • John B. Hudson, Surface Science — An Introduction, (BUTTERWORTH-Heinemann 1992).

Ссылки[править | править код]