Перейти на страницу файла на Викискладе

Файл:Fib tem sample.jpg

Материал из Википедии — свободной энциклопедии
Перейти к навигации Перейти к поиску

Исходный файл ‎(1024 × 800 пкс, размер файла: 205 КБ, MIME-тип: image/jpeg)

Краткое описание

Описание
English: SEM micrograph of a wide-bandgap semiconductor prepared for TEM by focused-ion-beam milling.
Deutsch: SEM-Bild eines Halbleiters der fuer Aufnahmen im TEM mit einer FIB praepariert wurde.
Дата
Источник English wikipedia
Автор english User:Cm the p


Лицензирование

w:ru:Creative Commons
атрибуция распространение на тех же условиях 		Этот файл доступен по лицензии Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unported. Также налагаются дополнительные ограничения.
Вы можете свободно:
  • делиться произведением – копировать, распространять и передавать данное произведение
  • создавать производные – переделывать данное произведение
При соблюдении следующих условий:
  • атрибуция – Вы должны указать авторство, предоставить ссылку на лицензию и указать, внёс ли автор какие-либо изменения. Это можно сделать любым разумным способом, но не создавая впечатление, что лицензиат поддерживает вас или использование вами данного произведения.
  • распространение на тех же условиях – Если вы изменяете, преобразуете или создаёте иное произведение на основе данного, то обязаны использовать лицензию исходного произведения или лицензию, совместимую с исходной.
Этот признак лицензирования был добавлен к этому файлу как часть обновления лицензии GFDL.
GNU head Разрешается копировать, распространять и/или изменять этот документ в соответствии с условиями GNU Free Documentation License версии 1.2 или более поздней, опубликованной Фондом свободного программного обеспечения, без неизменяемых разделов, без текстов, помещаемых на первой и последней обложке. Копия лицензии включена в раздел, озаглавленный GNU Free Documentation License. Также налагаются дополнительные ограничения.

Краткие подписи

Добавьте однострочное описание того, что собой представляет этот файл

Элементы, изображённые на этом файле

изображённый объект

MIME-тип

image/jpeg

История файла

Нажмите на дату/время, чтобы посмотреть файл, который был загружен в тот момент.

Дата/времяМиниатюраРазмерыУчастникПримечание
текущий14:36, 3 февраля 2007Миниатюра для версии от 14:36, 3 февраля 20071024 × 800 (205 КБ)EdC{{Information |Description=SEM micrograph of a wide-bandgap semiconductor prepared for TEM by focused-ion-beam milling. |Source=English wikipedia |Date=9 March 2006 |Author=english User:Cm the p |Permission= |other_versions= }} [[category:Focused Ion Bea

Следующая страница использует этот файл:

Глобальное использование файла

Данный файл используется в следующих вики:

Метаданные

Файл содержит дополнительные данные, обычно добавляемые цифровыми камерами или сканерами. Если файл после создания редактировался, то некоторые параметры могут не соответствовать текущему изображению.

Источник — https://ru.wikipedia.org/wiki/Файл:Fib_tem_sample.jpg