Перейти на страницу файла на Викискладе

Файл:Cross section of passive film of stainless steel.webp

Материал из Википедии — свободной энциклопедии
Перейти к навигации Перейти к поиску

Исходный файл(741 × 722 пкс, размер файла: 80 КБ, MIME-тип: image/webp)

Краткое описание

Описание
English: Electron microscope image of cross-section of passive film of SUS304 stainless steel. The passive film situated between the substrate and the platinum layer. The image was obtained by Field Emission Scanning Electron Microscope (JEM-3000F, JEOL Ltd.). The detail can be found on the source.
Дата
Источник Wang, R., Li, Y., Xiao, T. et al. Using Atomic Force Microscopy to Measure Thickness of Passive Film on Stainless Steel Immersed in Aqueous Solution. Sci Rep 9, 13094 (2019). https://doi.org/10.1038/s41598-019-49747-0 (Figure 2 (a))
Автор Rongguang Wang, Yunhui Li, Tian Xiao, Li Cong, Yunhan Ling, Zhaoxia Lu, Chiharu Fukushima, Isao Tsuchitori & Mohammed Bazzaoui. (Cropped by the uploader)

Лицензирование

w:ru:Creative Commons
атрибуция
Этот файл доступен по лицензии Creative Commons Attribution 4.0 International
Вы можете свободно:
  • делиться произведением – копировать, распространять и передавать данное произведение
  • создавать производные – переделывать данное произведение
При соблюдении следующих условий:
  • атрибуция – Вы должны указать авторство, предоставить ссылку на лицензию и указать, внёс ли автор какие-либо изменения. Это можно сделать любым разумным способом, но не создавая впечатление, что лицензиат поддерживает вас или использование вами данного произведения.

Краткие подписи

Добавьте однострочное описание того, что собой представляет этот файл

Элементы, изображённые на этом файле

изображённый объект

image/webp

722 пиксель

741 пиксель

История файла

Нажмите на дату/время, чтобы посмотреть файл, который был загружен в тот момент.

Дата/времяМиниатюраРазмерыУчастникПримечание
текущий14:26, 12 июня 2020Миниатюра для версии от 14:26, 12 июня 2020741 × 722 (80 КБ)YapparinaUploaded a work by Rongguang Wang, Yunhui Li, Tian Xiao, Li Cong, Yunhan Ling, Zhaoxia Lu, Chiharu Fukushima, Isao Tsuchitori & Mohammed Bazzaoui (cropped by the uploader) from Wang, R., Li, Y., Xiao, T. et al. Using Atomic Force Microscopy to Measure Thickness of Passive Film on Stainless Steel Immersed in Aqueous Solution. Sci Rep 9, 13094 (2019). https://doi.org/10.1038/s41598-019-49747-0 with UploadWizard

Нет страниц, использующих этот файл.

Глобальное использование файла

Данный файл используется в следующих вики: