ОписаниеPhotoluminescence image calibrated with PCD on annealed silicon wafer.svg
English: A PCD (Photoconductance decay)-calibrated photoluminescence image showing the change in passivation quality (minority carrier lifetimes) after dark annealing a 4-inch p-type monocrystalline float zone silicon wafer coated with 10nm layer of intrinsic amorphous silicon at various temperatures for 50 seconds. The images were taken as a differential of two images registered using LumiTools ICARUS.
делиться произведением – копировать, распространять и передавать данное произведение
создавать производные – переделывать данное произведение
При соблюдении следующих условий:
атрибуция – Вы должны указать авторство, предоставить ссылку на лицензию и указать, внёс ли автор какие-либо изменения. Это можно сделать любым разумным способом, но не создавая впечатление, что лицензиат поддерживает вас или использование вами данного произведения.
распространение на тех же условиях – Если вы изменяете, преобразуете или создаёте иное произведение на основе данного, то обязаны использовать лицензию исходного произведения или лицензию, совместимую с исходной.
Файл содержит дополнительные данные, обычно добавляемые цифровыми камерами или сканерами. Если файл после создания редактировался, то некоторые параметры могут не соответствовать текущему изображению.