ОписаниеСканирующий зондовый микроскоп и шероховатость кварцевой пластины.jpg
Русский: атомно-силовая микроскопия
сканирующий зондовый микроскоп
наноэдьюкатор
English: We examine the rough surface of the sample using a nano eductor. Unlike a scanning tunneling microscope, both conductive and non-conductive surfaces can be examined with an atomic force microscope.
делиться произведением – копировать, распространять и передавать данное произведение
создавать производные – переделывать данное произведение
При соблюдении следующих условий:
атрибуция – Вы должны указать авторство, предоставить ссылку на лицензию и указать, внёс ли автор какие-либо изменения. Это можно сделать любым разумным способом, но не создавая впечатление, что лицензиат поддерживает вас или использование вами данного произведения.
https://creativecommons.org/licenses/by/4.0CC BY 4.0 Creative Commons Attribution 4.0 truetrue
Краткие подписи
Исследуем шероховатую поверхность образца с помощью наноэдьюкатора. В отличие от сканирующего туннельного микроскопа, с помощью атомно-силового микроскопа можно исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности.