Олехнович, Николай Михайлович

Материал из Википедии — свободной энциклопедии
Перейти к навигации Перейти к поиску
В Википедии есть статьи о других людях с такой фамилией, см. Олехнович.
Николай Михайлович Олехнович
белор. Мікалай Міхайлавіч Аляхновіч
Дата рождения 2 мая 1935(1935-05-02) (85 лет)
Место рождения
Страна
Научная сфера Физика твёрдого тела
Место работы
Альма-матер
Учёная степень доктор физико-математических наук
Учёное звание профессор
академик НАНБ

Николай Михайлович Олехнович (белор. Мікалай Міхайлавіч Аляхновіч; род. 2 мая 1935(1935-05-02), Вороничи[d], Новогрудское воеводство) — советский и белорусский физик, академик Национальной академии наук Беларуси (1996; член-корреспондент с 1989), доктор физико-математических наук (1988), профессор (1991). Заслуженный деятель науки Республики Беларусь (1999).

Биография[править | править код]

Олехнович родился в деревне Вороничи (ныне — Слонимский район, Гродненская область) в крестьянской семье. После окончания в 1957 году физико-математического факультета БГУ он работал в Физико-техническом институте АН БССР, а с 1959 года — в Отделе физики твёрдого тела и полупроводников АН БССР, который вскоре был преобразован в Институт физики твердого тела и полупроводников АН БССР. В 19681989 гг. он возглавлял лабораторию, а с 1993 по 2004 гг. был директором этого института. Одновременно в 19972002 гг. он выполнял обязанности академика-секретаря Отделения физики, математики и информатики НАН Беларуси. С 2004 года Олехнович является главным научным сотрудником Объединённого института физики твердого тела и полупроводников НАН Беларуси, читает лекции в БГУ.

Научная деятельность[править | править код]

Научные работы Олехновича посвящены вопросам физики твёрдого тела, кристаллофизике. В защищённой в 1963 кандидатской диссертации он изучил пространственное распределение электронной плотности в кристаллах полупроводников, которое можно использовать для определения их физических характеристик. С 1967 Олехнович изучал дефекты в реальных кристаллах, разработал рентгеновский дифракционно-поляризационный метод анализа кристаллов, исследовал явления двулучепреломления и деполяризации рентгеновского излучения на дислокациях, эффект толщинных осцилляций интенсивности рассеяния рентгеновских лучей, что позволяет определять типы и количество дефектов. Он развил подход для описания фазовых превращений кристаллов типа перовскита, внес значительный вклад в создание новых материалов, которые могут быть использованы в твердотельной электронике.

Публикации[править | править код]

Олехнович является автором 10 изобретений и более 300 научных публикаций, среди которых:

Литература[править | править код]

Ссылки[править | править код]