Шаблон:Cite doi/10.1143/JJAP.41.5668

Sakabe Yukio, Hamaji Yukio, Sano Harunobu, Wada Nobuyuki. Effects of Rare-Earth Oxides on the Reliability of X7R Dielectrics // Japanese Journal of Applied Physics. — 2002. — 15 сентября (т. 41, № Part 1, No. 9). — С. 5668—5673. — ISSN 0021-4922. — doi:10.1143/JJAP.41.5668.

Документация

[просмотр | править | история | ]

Заполнение данного шаблона

Если описание состоит лишь из одного DOI, то Вы можете с помощью бота заполнить недостающие поля.

Если бот не заполняет эту страницу, то подождите, пока бот будет готов, или заполните её самостоятельно.

Также не забудьте добавить эту страницу в свой список наблюдения для предотвращения возможного вандализма!

Использование этого шаблона в статьях

Этот шаблон содержит подробную информацию о данном библиографическом описании. Чтобы вставить его в статью, используйте соответствующий синтаксис:

{{cite doi|10.1143/JJAP.41.5668}}

Во избежание поломок страниц, использующих этот шаблон, экспериментируйте в песочнице (создать | зеркало) или своём личном пространстве.
Подстраницы этого шаблона.