Шаблон:Cite doi/10.1143/JJAP.41.5668
Sakabe Yukio, Hamaji Yukio, Sano Harunobu, Wada Nobuyuki. Effects of Rare-Earth Oxides on the Reliability of X7R Dielectrics // Japanese Journal of Applied Physics. — 2002. — 15 сентября (т. 41, № Part 1, No. 9). — С. 5668—5673. — ISSN 0021-4922. — doi:10.1143/JJAP.41.5668.
Заполнение данного шаблона
[править код]Если описание состоит лишь из одного DOI, то Вы можете с помощью бота заполнить недостающие поля.
Если бот не заполняет эту страницу, то подождите, пока бот будет готов, или заполните её самостоятельно.
Также не забудьте добавить эту страницу в свой список наблюдения для предотвращения возможного вандализма!
Использование этого шаблона в статьях
[править код]Этот шаблон содержит подробную информацию о данном библиографическом описании. Чтобы вставить его в статью, используйте соответствующий синтаксис:
{{cite doi|10.1143/JJAP.41.5668}}