SSIM

Материал из Википедии — свободной энциклопедии
Перейти к: навигация, поиск

Индекс структурного сходства (SSIM от англ. structure similarity) — метод измерения схожести между двумя изображениями путем полного сопоставления. SSIM-индекс является развитием традиционных методов, таких как PSNR (peak signal-to-noise ratio) и метод среднеквадратичной ошибки MSE, которые оказались несовместимы с физиологией человеческого восприятия.

Отличительной особенностью метода, в отличие от MSE и PSNR, является то, что он учитывает «восприятие ошибки» благодаря учёту структурного изменения информации. Идея заключается в том, что пиксели имеют сильную взаимосвязь, особенно когда они близки пространственно. Данные зависимости несут важную информацию о структуре объектов и о сцене в целом.

SSIM-метрика рассчитана на различные размеры окна. Разница между двумя окнами и имеющими одинаковый размер N×N:

где:

  •  — среднее ;
  •  — среднее ;
  •  — дисперсия ;
  •  — дисперсия ;
  •  — ковариация и ;
  • ,  — две переменных:
    •  — динамический диапазон пикселей (обычно );
    • и  — константы.

Приведённая формула применима только для яркости изображения, по которой и происходит оценка качества. Полученный SSIM-индекс лежит в пределах от −1 до +1. Значение +1 достигается только при полной аутентичности образцов. Как правило, метрика рассчитана на окно размером 8×8 пикселей. Окно может смещаться через пиксель, но специалисты рекомендуют использовать группы окон для уменьшения сложности вычислений.

Структурные отличия (DSSIM от англ. Structural dissimilarity) можно выразить через SSIM-метрику:

См. также[править | править вики-текст]

Литература[править | править вики-текст]

Ссылки[править | править вики-текст]