Цернике, Фриц

Материал из Википедии — свободной энциклопедии
Перейти к: навигация, поиск
Фриц Цернике
Frits Zernike
Zernike.jpg
Дата рождения:

16 июля 1888({{padleft:1888|4|0}}-{{padleft:7|2|0}}-{{padleft:16|2|0}})

Место рождения:

Амстердам, Нидерланды

Дата смерти:

10 марта 1966({{padleft:1966|4|0}}-{{padleft:3|2|0}}-{{padleft:10|2|0}}) (77 лет)

Место смерти:

Амерсфорт, Нидерланды

Страна:

НидерландыFlag of the Netherlands.svg Нидерланды

Научная сфера:

физика

Награды и премии


Нобелевская премия Нобелевская премия по физике (1953)

Фриц Цернике (нидерл. Frits Zernike; 16 июля 188810 марта 1966) — голландский физик, лауреат Нобелевской премии по физике 1953 года «За обоснование фазово-контрастного метода, особенно за изобретение фазово-контрастного микроскопа».

Биография[править | править исходный текст]

Цернике родился в Амстердаме, Нидерланды в семье Карла Фридриха Августа Цернике и Антье Дайперинк. Родители были учителями математики, и он приобрёл страсть отца к физике. Он изучал химию (её основы), математику и физику в университете Амстердама. В 1912 году он был удостоен премии за работу по опалесценции в газах. В 1913 году он стал помощником Якоба Корнелиуса Каптейна в астрономической лаборатории Университета Гронингена. В 1914 году он совместно с Леонардом Орнштейном вывел уравнения Орнштейна — Цернике для теории критической точки. В 1915 году он получил место на кафедре теоретической физики в том же университете, и в 1920 году он был назначен профессором теоретической физики.

Основные труды[править | править исходный текст]

В 1930 году Цернике проводит исследования по спектральным линиям и обнаружили, что так называемые призраки линий, которые находятся слева и справа от каждой основной линии в спектрах созданных с помощью дифракционной решетки, имеют сдвиг по фазе от первичной линии на 90 градусов. На физическом и медицинском конгрессе в г. Вагенинген в 1933 году, Цернике впервые описал свой ​​метод фазового контраста в приложении к микроскопии. Он использовал метод, чтобы проверить форму вогнутых зеркал. Его открытие легло в основу первого микроскопа на основе метода фазового контраста, построенный во время Второй мировой войны.

Еще один вклад в области оптики, связанных с эффективным описания дефектов изображений или аберраций оптических систем, таких как микроскопы и телескопы. Представление аберраций первоначально была основана на теории, разработанной Людвигом Зейделем в середине девятнадцатого века. Представление Зейделя было основано на разложении в степенной ряд и не позволяло четкого разделения между различными типами и порядков аберраций. Ортогональные многочлены Цернике позволили решить эту давнюю проблему оптимальной "балансировки" различных аберраций оптических систем. С 1960-х полиномы Цернике широко используются в оптическом дизайне, оптической метрологии и анализе изображений.

Работы Цернике помогли пробудить интерес к теории когерентности, исследованиям частично когерентных источников света. В 1938 году он опубликовал более простой вывод теоремы Ван Циттерта (1934 год) о когерентности излучения от удаленных источников, ныне известный как теорема Ван Циттерта — Цернике.[1] [2]

Сноски[править | править исходный текст]

  1. P.H. van Cittert (1934). «Die Wahrscheinliche Schwingungsverteilung in Einer von Einer Lichtquelle Direkt Oder Mittels Einer Linse Beleuchteten Ebene». Physica 1: 201-210.
  2. F. Zernike (1938). «The concept of degree of coherence and its application to optical problems». Physica 5: 785-795.

Ссылки[править | править исходный текст]